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SURFTENS HL 200 晶圓接觸角測量儀專為半導(dǎo)體工業(yè)及科研領(lǐng)域開發(fā),,特別適用于硅片表面處理過程中的工藝控制。它是分析硅片接觸角與潤濕性的理想工具,能夠...
FLATSCAN 薄膜應(yīng)力測試儀用于對各種反射面(如硅片,、鏡面,、X 射線鏡(Goebel-mirrors)、金屬表面或拋光聚合物)的平整度,、表面曲率,、平均半徑和...
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